光学薄膜测量|光学薄膜测量系列-Angstrom椭偏仪|光谱椭偏仪|filmetrics薄膜测厚仪|Angstrom薄膜测厚仪|thetametrisis薄膜测厚仪-孚光精仪公司felles.cn

聚合物薄膜测厚仪 FPTHE-FR-Thermal
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜）在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，我们特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg), ，热分解温度thermal degradation temperature (Td) ，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。
便携式薄膜测厚仪 FPTHE-FR-pOrtable
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款便携式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等，这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k，薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
薄膜溶解测厚仪 FPTHE-FR-liquid
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款薄膜溶解测厚仪用于实时监测薄膜在液体中薄膜厚度变化和光学常量（n, k)变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，我们特意为薄膜溶解测厚仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。
镜片透光率测试仪 FPASP-TSM-01
品牌:孚光精仪 价格:96650.00

镜片透光率测试仪是一款眼镜镜片透光率测量仪器,广泛用于薄膜透光率测试,比如LED扩散板透光率测试,镜头透光率测试,玻璃透过率测试,隔热纸材料透过率测试。
光学薄膜测厚仪 FRANG-SR100
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，非常适合日常已知膜系膜堆测量。
薄膜厚度绘图仪 FPANG-SRM300
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
薄膜厚度均匀性测量仪 FPANG-SRM100
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
宽带光学薄膜测厚仪 FRANG-SR500
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款宽带光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光等，这款宽带光学薄膜厚度测量仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k)。测量薄膜厚度范围:2nm -150um,波长范围250-1700nm
显微薄膜测量仪 FRANG-MSP300
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款显微薄膜测量仪是一款多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计，可以结合显微镜测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及测量薄膜荧光。这款显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
高级自动光谱椭偏仪 FPANG-SE500BA
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款高级自动光谱椭偏仪是自动变角椭偏仪,能够自动改变测角计入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改变步进高达0.01度，光谱范围覆盖250-1700nm, 是宽波段高精度自动椭偏仪。
手动低价光谱椭偏仪 FPANG-SE300BE
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款手动低价光谱椭偏仪是高性价比手动椭偏仪,它采用手动改变测角计入射角技术,相比于自动改变入射角的自动光谱椭偏仪价格更低。
光伏太阳能光谱椭偏仪 FPANG-SE200BE-solar
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款光伏太阳能光谱椭偏仪是全球首款专业为光伏太阳能领域的薄膜测量而开的手动光伏椭偏仪，这款光伏太阳能光谱椭偏仪为光伏薄膜测量研究提供便利，具有实时测量薄膜厚度和薄膜厚度绘图的独特功能。它采用手动改变测角计的入射角，数秒中给出结果。
大型光谱椭偏仪 FPANG-SE200BE-M450
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款大型光谱椭偏仪SE200BM-M450具有450mm直径样品台，提供更为安全的样品操作和定位，具有250-850nm的波长范围，是美国Angstrom公司为大尺寸样品薄膜厚度测量而设计的美国进口光谱椭偏仪,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性价比椭偏仪价格和椭偏仪品牌。
手动光谱椭偏仪 FPANG-SE200BM-M300
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款手动光谱椭偏仪是一种手动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围，手动改变入射角。手动spectroscopic ellipsometer光谱范围覆盖从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长非常适合测量超薄薄膜，比如纳米厚度薄膜测量,硅晶圆薄膜厚度测量，典型值在2nm左右。对于测量许多材料的带隙，深紫外光谱椭偏仪也非常重要。
反射式光谱椭偏仪 FPANG-SE200BA-MSP
品牌:angstec 价格:0.00

这款反射式光谱椭偏仪MSP具有250-1000nm的波长范围，可与显微分光光度计联合使用，测量极小斑点的薄膜厚度和折射率，可广泛用于MEMS，半导体晶圆等领域,是反射光谱椭偏仪品牌中光谱椭偏仪价格较低的椭偏仪。
自动光谱椭偏仪 FPANG-SE200BA-M300
品牌:孚光精仪 价格:0.00

这款自动光谱椭偏仪M300是一种自动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围，并具有自动改变入射角的功能。自动spectroscopic ellipsometer从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长椭偏仪非常适合测量超薄薄膜厚度，比如纳米薄膜厚度，比如硅晶圆的薄膜厚度，典型值在2nm左右。对于测量许多材料的带隙，深紫外光谱椭偏仪也非常重要。

激光微加工系统

光学测量系列

特种成像系统

激光光学类

高光谱成像系统

光谱辐射测量系统

光学精密机械类

聚合物薄膜测厚仪 FPTHE-FR-Thermal

便携式薄膜测厚仪 FPTHE-FR-pOrtable

薄膜溶解测厚仪 FPTHE-FR-liquid

镜片透光率测试仪 FPASP-TSM-01

光学薄膜测厚仪 FRANG-SR100

薄膜厚度绘图仪 FPANG-SRM300

薄膜厚度均匀性测量仪 FPANG-SRM100

宽带光学薄膜测厚仪 FRANG-SR500

显微薄膜测量仪 FRANG-MSP300

高级自动光谱椭偏仪 FPANG-SE500BA

手动低价光谱椭偏仪 FPANG-SE300BE

光伏太阳能光谱椭偏仪 FPANG-SE200BE-solar

大型光谱椭偏仪 FPANG-SE200BE-M450

手动光谱椭偏仪 FPANG-SE200BM-M300

反射式光谱椭偏仪 FPANG-SE200BA-MSP

自动光谱椭偏仪 FPANG-SE200BA-M300