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  • 红外光谱椭偏仪 FPANG-IRSE

    品牌:进口 价格:0.00
    红外光谱椭偏仪IRSE是专业为半导体材料薄膜测量设计的红外椭偏仪,红外光谱椭圆偏振仪(IRSE),表征材料特性,包括结构参数,如层厚度、界面特性、表面粗糙度和污染物的存在。
  • 深紫外-可见-近红外多波段椭偏仪是覆盖190nm-1700nm光谱范围的DUV-VIS-NIR光谱椭偏仪,非常适合超薄薄膜厚度测量,纳米薄膜膜厚测量应用。
  • 薄膜测厚仪TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度测量系统,采用小光斑光谱反射计获得薄膜厚度信息,可靠的固态线性二*管阵列可快速、精确地测量单层薄膜,如氧化物、氮化物和光刻胶,以及厚度范围为100Å至30µm的多达3层薄膜堆叠的顶层。
  • 光学镀膜检测仪PHOTON RT UV-VIS-MWIR是为光学镀膜分析检测设计的镀膜扫描分光光度计,满足光学样品的无人值守薄膜测量。测量基片上同一区域的透射率和绝对镜面反射率–非常适合薄膜设计的反向分析,有效波长范围为185nm至5200nm
  • 聚合物薄膜测厚仪 FPTHE-FR-Thermal

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜)和 photoresist films (光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜)在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,我们特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg), ,热分解温度thermal degradation temperature (Td) ,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。
  • 便携式薄膜测厚仪 FPTHE-FR-pOrtable

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款便携式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等,这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k,薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
  • 薄膜溶解测厚仪 FPTHE-FR-liquid

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜溶解测厚仪用于实时监测薄膜在液体中薄膜厚度变化和光学常量(n, k)变化,是全球**的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,我们特意为薄膜溶解测厚仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。
  • 镜片透光率测试仪 FPASP-TSM-01

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    镜片透光率测试仪是一款眼镜镜片透光率测量仪器,广泛用于薄膜透光率测试,比如LED扩散板透光率测试,镜头透光率测试,玻璃透过率测试,隔热纸材料透过率测试。
  • 光学薄膜测厚仪 FRANG-SR100

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款光学薄膜测厚仪是采用光谱反射计SR技术的反射光谱膜厚仪,测量薄膜反射光谱,测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数,非常适合日常已知膜系膜堆测量。
  • 薄膜厚度绘图仪 FPANG-SRM300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 薄膜厚度均匀性测量仪 FPANG-SRM100

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 光学膜厚仪 FRANG-SR500

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款宽带光学膜厚仪是一款台式光学薄膜测厚仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光,也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k。测量薄膜厚度范围:2nm -150um,波长范围250-1700nm
  • 显微分光光度计 FRANG-MSP300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款显微分光光度计MicroSpectrophotomete是多功能显微薄膜测厚测量仪,结合显微镜测量薄膜吸收率,透过率,反射率以及薄膜荧光。这款显微分光光度计通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
  • 高级自动光谱椭偏仪 FPANG-SE500BA

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款高级自动光谱椭偏仪是自动变角椭偏仪,能够自动改变测角计入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改变步进高达0.01度,光谱范围覆盖250-1700nm, 是宽波段高精度自动椭偏仪。
  • 手动光谱椭偏仪 FPANG-SE300BE

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款手动低价光谱椭偏仪是高性价比手动椭偏仪,它采用手动改变测角计入射角技术,相比于自动改变入射角的自动光谱椭偏仪价格*低。
  • 光伏光谱椭偏仪 FPANG-SE200BE-solar

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    光伏光谱椭偏仪是专业为光伏太阳能领域薄膜测量而开的太阳能薄膜椭偏仪,为光伏薄膜厚度测量研究提供便利,具有实时原位测量光伏薄膜厚度和太阳能薄膜厚度绘图的功能,通过配置不同波段,可测量CdTe薄膜厚度和CIGS薄膜厚度。
  • 大型光谱椭偏仪 FPANG-SE200BE-M450

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款大型光谱椭偏仪SE200BM-M450具有450mm直径样品台,提供*为安全的样品操作和定位,具有250-850nm的波长范围,是美国Angstrom公司为大尺寸样品薄膜厚度测量而设计的美国进口光谱椭偏仪,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性价比椭偏仪价格和椭偏仪品牌。
  • 手动光谱椭偏仪 FPANG-SE200BM-M300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款手动光谱椭偏仪是一种手动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围,手动改变入射角。手动spectroscopic ellipsometer光谱范围覆盖从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长非常适合测量超薄薄膜,比如纳米厚度薄膜测量,硅晶圆薄膜厚度测量,典型值在2nm左右。对于测量许多材料的带隙,深紫外光谱椭偏仪也非常重要。
  • 这款椭圆偏振显微分光光度计MSP集合椭圆偏振光谱仪和显微光度计功能,适合250-1000nm薄膜膜厚测量,可测量*小斑点的薄膜厚度和折射率,非常适合用于MEMS,半导体晶圆等领域。
  • 自动椭圆偏振光谱仪 FPANG-SE200BA-M300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款自动椭圆偏振光谱仪M300是一种自动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围,并具有自动改变入射角的功能。自动spectroscopic ellipsometer从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长椭偏仪非常适合测量超薄薄膜厚度,比如纳米薄膜厚度,比如硅晶圆的薄膜厚度,
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