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开尔文探针仪器
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开尔文探针系统 FPPRI-Kelvin Probe
品牌:
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开尔文探针系统Kelvin Probe可用于光电化学中,精确测量不同半导体和导电材料的功函数,精度高。表面态在样品的电荷转移和功函数变化中起着重要作用。
超高真空开尔文探针系统 FPKPT-UHVKP020
品牌:
价格:
0.00
超高真空开尔文探针系统帮助用户充分利用真空下的工作功能和接触电位差(CPD)测量。每个系统都配有高质量的手动或电动转换器,可实现可靠和准确的针尖到样品定位,无与伦比的跟踪系统在测量过程中始终保持针尖分离恒定。即使在真空下,功函数的分辨率也为1-3mev。
表面光电压谱仪 FPKPT-SPV020
品牌:
价格:
0.00
表面光电压谱仪是专业为研究光敏材料(如有机半导体、太阳能电池或光敏染料)设计的表面光电压仪器,Surface Photovoltage.
单点开尔文探针系统 FPKPT-kp020
品牌:
价格:
0.00
我们的单点开尔文探针系统采用非零信号检测方法对材料的功函数/费米能级进行非常高质量的测量。
大范围扫描开尔文探针系统 FPKPT-SKP5050
品牌:
价格:
0.00
这款大范围扫描开尔文探针系统帮助用户可以访问从50mm到350mm的样品的二维和三维功函数图。扫描开尔文探针的功函数分辨率为1-3meV,探针尖端直径的空间分辨率为0.05mm,可对功函数、接触电位差和伏特电位进行可靠、可重复的测量。
环境压力光电子发射光谱仪 FPKEL-APS
品牌:
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环境压力光电子发射光谱仪系统是为大气环境下光电子能谱测量设计的光电子能谱仪器,Photoemission Spectroscopy,通过空气中的光电发射测量材料的绝对功函数,不需要真空,具有英国和全球**。环境压力光电子发射光谱仪系统在3.4eV到7.0 eV的激发范围内能够测量金属的绝对功函数(精度:0.05 eV)和半导体的电离电位。
单点开尔文扫描探针系统 FPANF-Kelvin
品牌:
孚光精仪
价格:
0.00
这款单点开尔文探针系统是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的开尔文扫描探针系统,Kelvin Probe System.它具有极为紧凑结构,可安放到各种环境箱或防尘罩中。
扫描开尔文探针系统 FPANF-AFT-KP150
品牌:
孚光精仪
价格:
0.00
大面积扫描开尔文探针系统能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。
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